檢測(cè)項(xiàng)目
X射線能譜分析（EDS）
背景
近年來(lái)，隨著電子設(shè)備線路設(shè)計(jì)日趨復(fù)雜，焊料無(wú)鉛化的日益嚴(yán)格，促使化學(xué)鎳金工藝的研究和應(yīng)用越來(lái)越受到重視并取得了新的發(fā)展。
作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~，PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。
對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證。
在PCB的分析上，能譜儀可用于表面的成分分析，可焊性不良的焊盤與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準(zhǔn)確度有限，低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結(jié)合使用可以同時(shí)獲得表面形貌與成分的信息，這是它們應(yīng)用廣泛的原因所在。
應(yīng)用范圍：
PCB、PCBA、FPC等。
測(cè)試步驟：
將樣品進(jìn)行表面鍍鉑金后，放入掃描電子顯微鏡樣品室中，使用15 kV的加速電壓對(duì)測(cè)試位置進(jìn)行放大觀察，并用X射線能譜分析儀對(duì)樣品進(jìn)行元素定性半定量分析。
樣品要求：
非磁性或弱磁性，不易潮解且無(wú)揮發(fā)性的固態(tài)樣品，小于8CM*8CM*2CM。
參考標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析
典型圖片：
成分分析測(cè)試譜圖
成分分析測(cè)試結(jié)果（Wt%）
Spectrum | C | Ni | Cu | Au | Total |
譜圖1 | 1.57 | 25.11 | 1.91 | 71.41 | 100 |
譜圖2 | 1.68 | 23.71 | 2.10 | 72.51 | 100 |
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